嘉賓介紹——鄭邦
賽默飛無機質譜部門(IOMS)應用工程師,在高分辨電感耦合等離子體質譜(HR-ICP-MS)和輝光放電質譜(GD-MS)領域擁有多年分析經驗。
演講主題
高分辨ICP-MS和GD-MS在集成電路材料檢測中的應用
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